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紅外熱成像儀

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*日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀

更新時(shí)間： 2017-11-21
產(chǎn)品型號：
簡單描述
*日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀
實(shí)現(xiàn)了“高速“絕緣電阻檢查
Z快50ms的高速判斷
快速釋放殘留電壓
任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）

詳細(xì)介紹

*日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀

日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀

日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀概要

實(shí)現(xiàn)了“高速”絕緣電阻檢查

zui快50ms的高速判斷

快速釋放殘留電壓

任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）

接觸檢查功能（防止由于接觸不良造成的誤判斷）

短路檢查功能（防止不合格品流入市場）

日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測試儀基本參數(shù)

測試項(xiàng)目	絕緣電阻（直流電壓施加方式）
測試電壓/測量量程（手動/自動）	25 V ≦V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦V ≦1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)
基本精度	±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦V < 100 V [0～20 MΩ], 100 V ≦V < 500 V [0～20 MΩ], 500 V ≦V ≦1000 V [0～200 MΩ]
測試速度	FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換）
顯示屏	LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段
存儲功能	保存內(nèi)容：額定測量電壓、比較器上下限值、測試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測量速度存儲數(shù)：zui多10組（可保存/讀取）
測試模式	連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換）
比較設(shè)置	UPPER_FAIL：測量值≧上限值 PASS：上限值＞測量值＞下限值 LOWER_FAIL：測量值≦下限值
判定處理	蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過RS-232C獲取判定結(jié)果
試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器	0.045 s ～999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間
響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器	試驗(yàn)開始后，禁止按照0.005 s ～999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動作的時(shí)間
模擬輸出	DC +4 V f.s.
接口	RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（僅限ST5520-01）
電源	AC100 V ～240 V，50/60Hz，zui大25VA
體積及重量	215W×80H×166Dmm，1.1kg
附件	操作說明書×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1